SEM掃描電鏡
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- 更新日期：2023-03-20
- 產品介紹：Prisma E SEM掃描電鏡是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和環(huán)境掃描的SEM （ESEM）模式，它*具備分析不導電，含氣體、水分或其它非常規(guī)測試的樣品。
- 廠商性質：代理商
產品介紹
| 品牌 | FEI/賽默飛 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 鎢燈絲 |
| 應用領域 | 化工 |
Prisma E SEM是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡(SEM)，在各種條件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和環(huán)境掃描的SEM (ESEM)模式，它*具備分析不導電，含氣體、水分或其它非常規(guī)測試的樣品。Prisma E SEM的高度靈活性、便捷使用性以及對樣品的寬泛適用性，是多用戶實驗室的理想選擇。
Prisma E SEM掃描電鏡特點：
☆ 方便快捷的加載多種樣品和重樣品；
☆ 基于Thermo ScientificTM Nav-CamTM相機和蒙太奇導航功能簡化樣品導航；
☆ 便捷性的用戶指南和撤消功能；
☆ 先進的掃描模式和電子束減速確保圖像質量；
☆ Thermo ScientificTM ColorSEMTM技術下進行直觀的元素分析；
☆ 真空模式，具備強大的樣品兼容性；
☆ *的環(huán)境掃描模式能夠在材料的自然狀態(tài)下成像；
☆ 可集成冷/熱臺進行易于控制的動態(tài)實驗；
☆ 廣泛選擇的探測器和附件，包括掃描透射電 (STEM)，陰極發(fā)光，圖像拼接等
Prisma E SEM掃描電鏡參數：
發(fā)射源：鎢燈絲（高性能電子光學鏡筒，雙陽極熱發(fā)射電子槍）
分辨率：
高真空成像 3.0nm@ 30kV（SE）；8.0 nm@ 3kV（SE）
低真空成像 3.0nm@ 30kV（SE）；4.0 nm@ 3kV（BSE）；10nm@ 3kV（SE）
環(huán)境掃描模式成像 3.0nm@ 30kV（SE）
放大倍數：5 ~ 1,000,000×（寶麗來相紙放大）
加速電壓范圍：200V ~ 30kV
探針電流范圍：可高達到2μA，連續(xù)可調；
低真空范圍：高達130Pa；
ESEM真空范圍：高達2600Pa（H2O）/4000Pa（N2）；
X-Ray工作距離：10mm，EDS檢出角35°
樣品室：從左至右為340mm寬的大存儲空間，樣品室可拓展接口數量12個，含能譜儀接口3個（其中2個處于180°對角位置）
樣品臺：五軸優(yōu)中心全自動馬達驅動
X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （連續(xù)旋轉）
多用途SEM樣品安裝載物臺，可同時放置 18 個標準樣品座（φ12mm）
大樣品高度不低于200mm
大樣品承重 5 kg
探測器系統：
高真空二次電子探測器ETD
樣品室內IR紅外相機CCD
低真空二次電子探測器LVD
氣體二次電子探測器GSED（環(huán)境真空）
控制系統：
操作系統：Windows 10
圖像顯示：24寸LCD顯示器，顯示分辨率1920×1200
支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示4幅圖像
軟件支持Undo和Redo功能
