透射電鏡
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- 更新日期：2023-03-20
- 產品介紹：Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200 kV，是專為滿足各種材料科學樣品和樣品的性能和效率而設計的。
- 廠商性質：代理商
產品介紹
| 品牌 | FEI/賽默飛 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發(fā)射 | 應用領域 | 電子/電池 |
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200 kV，是專為滿足各種材料科學樣品和樣品的性能和效率而設計的?，F可提供對稱布置的雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”)，以大限度提高分析通量。
Talos F200i標準的 X-TWIN 物鏡極靴間距在應用中具有大靈活性，結合高再現性能的鏡筒設計，可支持高分辨率二維和三維表征分析、原位動態(tài)觀測及電子衍射應用。Talos F200i 還配備了 4k × 4k Ceta 16M 相機，可在 64 位平臺上提供大 視場、高靈敏度快速成像。
Talos F200i S/TEM 專為多用戶和多學科環(huán)境設計，并配備了可在所有賽默飛 TEM 平臺使用的Thermo Scientific™ Velox™ 用戶界面，對于新用戶來說也非常友好。此外，所有 TEM 日常調整都已經自動化，以提供可重復的日常設置。自動調節(jié)功能簡化了初學者的學習過程，減少了多用戶環(huán)境中的緊張關系，并使有經驗的操作員可以在較短時間內獲取數據信息。
| 產品參數 | |
| TEM 線分辨率 | ≤ 0.10 nm |
| LACBED 大會聚角 | ≥ 100 mrad |
| 大衍射角 | 24° |
| STEM 分辨率 | ≤ 0.16 nm |
| EDS | 側插式，可伸縮 |
| 電子槍類型 | 場發(fā)射槍或高亮度場發(fā)射槍 |
| 樣品操作 | |
| Z 軸移動總行程 (標準樣品桿) | ± 0.375 mm |
| 三維重構樣品桿大 α 傾轉角 (高視野樣品桿) | ± 90° |
| 樣品漂移 (標準樣品桿) | ≤ 0.5 nm/min |
| 透射電鏡關鍵優(yōu)勢 |
| 雙 EDS 技術可實現。從單 30 mm2 探頭到可實現高通量 (或低劑量)分析的雙 100 mm2 探頭，可根據您的需求 選擇 EDS。 |
| 高質量 S/TEM 圖像和準確的 EDS。借助創(chuàng)新直觀的 Velox 軟件用戶界面，可通過極其簡單的操作方法，獲得 高質量 TEM 或 S/TEM 圖像。Velox 軟件內置的*的 EDS 吸收校準功能可實現準確的定量分析。 |
| 原位動態(tài)分析功能。可加裝三維重構或原位分析樣品桿、高速相機、智能軟件。 X-TWIN 大物鏡間距可實現三維成像和原位數據采集，同時大限度避免分辨率和分析能力的損失。 |
| 提高生產效率。超穩(wěn)定鏡筒設計；借助 SmartCam 實現遠程操作；物鏡功率恒定，可實現快速電鏡模式和高壓切換；并可輕松、快速切換多用戶環(huán)境。 |
| 可重復性的可靠數據。所有日常 TEM 合軸，例如聚焦、中心高度調節(jié)、電子束偏轉、聚光鏡光闌對中、電子束傾斜樞軸點以及旋轉中心調整都是自動完成的，以確保用戶總是從成像條件開始。實驗可多次重復，因而用戶可以更多關注研究課題而不再糾結于電鏡操作。 |
| 快速大視場成像。大視場的 4k × 4k Ceta CMOS 相機可以在整個高壓范圍實現高靈敏度、高速實時數字變焦。 |
| 緊湊型設計。本設備具有更小的尺寸和占地面積，便于在更具挑戰(zhàn)性的較小空間內安裝，同時有助于維修和降低安裝和維護成本。 |
